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卷材外觀檢測(cè)
作者：云泰通電子
已用于銅箔、鋁箔外觀缺陷檢測(cè)，檢測(cè)的缺陷類(lèi)型包含：顆粒、針孔、疵點(diǎn)、凹坑、皺褶、異物等
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